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      5G产业带动(dòng)芯片高端检(jiǎn)测需求 日美厂商首(shǒu)先(xiān)受(shòu)益

      2019/09/17拓扑产业研究院(yuàn)425

      受到半导体产(chǎn)业需(xū)求衰退影响,半导体设备部(bù)分(fèn)也面临需求减缓状况(kuàng)。不(bú)过在5GAI等(děng)新兴芯(xīn)片(piàn)需求带动下,仍为部份(fèn)设备厂(chǎng)商带来机(jī)会。

      以芯片(piàn)检测(cè)设备来(lái)说,未来芯(xīn)片的(de)多样性与客制化需求创造出新商机,让主要(yào)厂商的营收(shōu)与毛利(lì)表现皆(jiē)优(yōu)于2019年初预(yù)期,而更重要的是,高端检测技(jì)术需求也是提升利润的主要推手。

      5G产(chǎn)业带(dài)动芯(xīn)片高(gāo)端检(jiǎn)测需(xū)求(qiú) 日美厂商首先受益(yì)

      SoC芯片检测需求上升弥(mí)补存储(chǔ)器(qì)衰退情况,高端检测(cè)项目助益毛利(lì)表现

      日本芯片检(jiǎn)测(cè)大(dà)厂(chǎng)ADVANTEST财报显示,2019年第(dì)二(èr)季销售金(jīn)额(é)为662亿日圆,约5.96亿(yì)美元,较第一季小幅(fú)成长3.4%,虽然与(yǔ)2018年(nián)同期(qī)相(xiàng)比下滑6.7%,但受(shòu)惠(huì)于成本管控(kòng)与5G、AI等(děng)高价值芯片检测助益,毛利率攀升至59.5%,同比上升5.6%。

      另一(yī)家主要厂商美商Teradyne营收(shōu)同样表(biǎo)现不俗,受惠于SoC市场需求高(gāo)于2019年初预期及5G基地台与手机芯(xīn)片的(de)需求加速,2019年(nián)第二季(jì)销售金额为(wéi)5.64亿美元,较(jiào)第一季成(chéng)长14%,同比成长(zhǎng)7%,毛利(lì)率同比略为下滑0.9%,但仍有57.5%水(shuǐ)平。

      以测试产品区分,虽(suī)然(rán)在存储器检测部(bù)份(fèn),受到(dào)日韩(hán)贸易战影(yǐng)响导致ASP不稳定(dìng),可能下修(xiū)检测需求,但在SoC方面(miàn)则(zé)受惠(huì)5G产业发展状况下提前发(fā)酵,拉抬测试设备需求上(shàng)升,也创造高价值的芯片检测项目(mù),目(mù)前主(zhǔ)要厂商(shāng)营收表现皆优(yōu)于2019年初(chū)预期,对下半年(nián)成长(zhǎng)幅度也颇(pō)为可期。

      另一方面,由于芯片检测范围广泛,在前段晶圆制造端及后段晶圆(yuán)封测端皆有需求,甚或部份提供IC设计服(fú)务的厂商,在制造与封装完后也要(yào)进(jìn)行自家(jiā)检测以符(fú)合(hé)客户出货(huò)标准,加添对(duì)整体检测设备需求量。

      由此看来,对比晶圆(yuán)制造设备,芯片检测设备占(zhàn)比(bǐ)虽然(rán)不高,但(dàn)其毛利表现仍不容(róng)小觑。

      设备厂(chǎng)商重(chóng)点发展客制(zhì)化与系统级测试,力求在高端芯片检测保持竞争(zhēng)力(lì)

      从(cóng)技术方面来看,检测设备发展的主要趋势有(yǒu)两项。首先是(shì)客制化方面,芯片检(jiǎn)测流程(chéng)中使用大(dà)量(liàng)同测方(fāng)式的最大好(hǎo)处在于单位测试成本得以降低,适合一般性芯片(piàn)使用。

      但在未(wèi)来高端芯片异质整合趋(qū)势下,客制(zhì)化就显(xiǎn)得相当重要,需要根据客户在效(xiào)率、温度、生产力等不同因素需(xū)求下进行(háng)点测,目前没有一种方法(fǎ)能符合(hé)所有客户需求,因此客制化能(néng)力是增加厂商自身(shēn)竞争力的重要指标。

      顺带一提,异质整合的最大问题是温度考量,多个不同功耗芯(xīn)片整合在(zài)一起产生的温度累加会影响(xiǎng)芯片工作效能,所以温度影响是重要(yào)的(de)环境因素;此外,5G芯片测试由于频段(duàn)会从(cóng)6GHz以下向上扩展(zhǎn)至70GHz,不同频(pín)段(duàn)的测试(shì)需求各有不同,也将是客制化(huà)需求(qiú)的主(zhǔ)要推手(shǒu)。

      另一(yī)项(xiàng)趋势是系(xì)统级检测(cè)(System Level Testing,SLT),也是主要厂商积(jī)极投入开发的检测方式。由于纳米节点微缩,晶体管越(yuè)来越多(duō),过往的测(cè)试(shì)区域即便只有1%范围没有测到,但以(yǐ)1亿个晶体管来看(kàn)仍有1百万个晶体(tǐ)管无法测(cè)试,无法(fǎ)对芯片性能做完整(zhěng)检查,故此系统(tǒng)级测(cè)试就很重要,藉由判断芯片(piàn)实际在终端(duān)设备(bèi)运用的状况(kuàng),能更进一步掌握芯片的性能(néng)表现,也是(shì)推动(dòng)先进封装技术(例如SiP系统级封装)的(de)主力之一。

      总括来(lái)说,高端检测技术的发展能(néng)力(lì)决(jué)定厂商在市场上的竞争力,目前仍由美国与日本厂(chǎng)商(shāng)占大部份市场需求。

      而(ér)面对中国设备商的自给率提升(shēng)计划,由于高端的技(jì)术(shù)门槛难(nán)度尚未突破(pò),且在中国积极加速芯片发展的步调下,没有太多时间(jiān)让设备商练兵,因此目前在高端(duān)需求上仍以国(guó)外设备商(shāng)大厂较有(yǒu)话(huà)语权。

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